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簡要描述:ITECH推出的SPS5000半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件是與IT2800系列高精密源/測(cè)量單元配套使用,旨在幫助用戶快速實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體器件檢定,器件電性能參數(shù)以及器件I-V特性測(cè)試。SPS5000軟件提供內(nèi)置的MOSFET、 BJT、二極管以及其他雙端器件結(jié)構(gòu)模型,并為每種類型的器件提供即用型測(cè)試項(xiàng),SPS5000半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件
?直觀的圖形化界面設(shè)計(jì),簡化了參數(shù)配置及I-V測(cè)試分析過程SPS5000半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件
?支持從測(cè)量設(shè)置、執(zhí)行到結(jié)果分析、數(shù)據(jù)管理的整個(gè)表征過程
?針對(duì)MOSFET/BJT/Diode/Resistor提供即用型測(cè)試項(xiàng),快速調(diào)用即用型測(cè)試項(xiàng),加速器件表征測(cè)試
SPS5000軟件具有各種強(qiáng)大的功能,可以快速進(jìn)行測(cè)量并以圖形化方式獲取結(jié)果。為加速半導(dǎo)體器件檢定測(cè)試過程,SPS5000針對(duì)常見的器件類型,例如MOSFET、二極管、BJT以及薄膜電阻配備多種即用型測(cè)試項(xiàng),使用者無需進(jìn)行任何的測(cè)試項(xiàng)開發(fā)或代碼編程,即可快速執(zhí)行復(fù)雜的半導(dǎo)體測(cè)試。以MOSFET的Id-Vd輸出特性測(cè)試為例,傳統(tǒng)的測(cè)試過程需要經(jīng)過:定義測(cè)試變量-----開發(fā)測(cè)試流程-----編寫測(cè)試代碼-----執(zhí)行測(cè)試。而通過SPS5000軟件用戶僅需要三個(gè)簡單的步驟,即可快速完成測(cè)試,第一步選擇即用型測(cè)試項(xiàng)Id-Vd-----第二步配置測(cè)量條件-----第三步執(zhí)行測(cè)試。
靈活提供測(cè)試序列,提升測(cè)試效率SPS5000半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件
SPS5000軟件提供了一種靈活且高效的方法,允許用戶選擇多個(gè)測(cè)試項(xiàng)來構(gòu)建測(cè)試序列,以便對(duì)半導(dǎo)體器件參數(shù)指標(biāo)進(jìn)行連續(xù)測(cè)試,從而顯著縮短了測(cè)試時(shí)間。這項(xiàng)功能適用于具備相同接線方式的測(cè)試項(xiàng)。在進(jìn)行測(cè)試配置時(shí),當(dāng)您選擇其中一個(gè)測(cè)試項(xiàng),軟件會(huì)自動(dòng)顯示具有相同測(cè)試接線的其他測(cè)試項(xiàng)。您可以根據(jù)具體的測(cè)試場(chǎng)景和需求,選擇一次執(zhí)行單個(gè)測(cè)試項(xiàng)(如Id-Vd)或組合成測(cè)試序列進(jìn)行連續(xù)測(cè)試(Id-Vd,Vth,IonIoffSlop),以實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體器件性能的評(píng)估和驗(yàn)證。
強(qiáng)大的圖表在線分析功能
SPS5000軟件提供了強(qiáng)大的圖形顯示和分析功能。用戶可以利用軟件提供的各種圖表分析工具,如曲線自動(dòng)縮放、恒值線、區(qū)域標(biāo)記、切線、分布線等,快速完成對(duì)測(cè)試結(jié)果的分析。用戶無需導(dǎo)出圖表后借助其他輔助工具,更加方便快捷。此外,軟件還支持多Y軸功能,并允許用戶根據(jù)分析需求靈活配置X軸和Y軸的數(shù)據(jù)類型,以及選擇log或linear刻度顯示格式,讓曲線顯示更直觀和符合分析的意圖。如下圖所示,當(dāng)您開啟line功能后,軟件會(huì)自動(dòng)顯示line與曲線交點(diǎn)位置的參數(shù)值。